液晶模組自動測試系統
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產品名稱: 液晶模組自動測試系統
產品型號: Model 29130/29132/29133/29135
產品展商: Chroma
產品文檔: 無相關文檔
簡單介紹
Chroma 29130/29132/29133/29135 為滿足液晶模組測試所需之要件及廠區產線管理之概念,系統以電腦架構之強大網路連線功能及其靈活且簡易之人機介面為基礎,整合視訊產生器、多通道高精度電源供應器及程序控制單元,針對液晶模組信號、圖像及電氣提供完整之測試需求。
液晶模組自動測試系統
的詳細介紹
主要特色:
- 符合Full HD 量測(29132/29133/29135)
- 計算機平臺之液晶模塊測試系統
- LVDS / TTL (選購) / TMDS信號提供(29130 LVDS 8bit)
- 顯示畫面分辨率可達WUXGA@60Hz
- 高精度之可編程直流電源
- 外接式直流電源控制(選購)
- 電源保護OVP / OCP / UVP / UCP
- 電壓/電流量測
- GO / NOGO快速判定功能
- 簡易之時序/ 圖像/ 測試程序之編輯
- 時序/圖像/ 測試程序無限制儲存
- EDID讀出/ 寫入/ 比對
- 液晶模塊缺陷代碼編輯及紀錄
- 十字坐標缺點定位檢查
- JPG / BMP / AVI / MEPG 檔提供
- 鍵盤操作
- 特殊I/O
- 網絡整合功能(選購)
- 產線過程控制及資料收集
使用者可依液晶模組所需之工作特性編輯測試程式,透過滑鼠及R emo t e K e y p a d 提供當今產線*完整且*簡易之測試模式,以提升生產效率。 29130/29132/29133/29135 液晶模組自動測試系統提供下列測試功能:
(1) 測試程式的編輯 可依據液晶模組電氣規格,提供電源啟始/結束時間 (Turn On / Turn Off)、掃描時序(Timing)、圖像(Pattern)、供應電壓/電流上下限保護設定(OCP / OVP / UCP / UVP)、即時上升/下降電壓改變(Ramp Up / Ramp Down)等參數設定,提供液晶模組*完整且***之測試。
(2) 畫面品質之測試 內建標準圖像或使用者可藉由ICON 之任意組合,自行建立所需之幾何圖像,亦可輸入副檔名為BMP/JPG 之自然畫像,同時動畫功能亦可提供LCD之反映時間 (Response time)測試,所有圖像皆可依液晶模組之且析度不同自動縮放,搭配編輯圖像預覽之功能,提升圖像編輯之便利性。
(3) 時序設定及圖像編輯 提供視訊電子標準委員會(VESA)之時序及圖像,并可依據客戶需求自行建立測試時序及圖像應用,并提供液晶模組所需之LVDS / TMDS / TTL(選購)信號。
(4) 輸出電壓、電流量測及判定 系統提供15V/4A、16V/1A、25V/3A、25V/20A外掛電源可提供可程式直流電源輸出,藉著RS232標準介面以提供液晶模組控制晶片、驅動晶片及背光模組所需之電源,每一輸出皆包含電壓、電流之實際讀值,其獨特設計可使量測點移至負載端,避免傳輸壓降,確保量測精度達mV等級,以完整解析液晶模組之工作狀態,同時每個輸出頻道能模擬電源開/關之時序關系、Ramp-up/down之波型輸出及過電壓及電流保護之功能,當狀態逾越設定時,除產生保護動作外,并利用燈號及聲響提醒操作者處置。
(5) 測試方式 于測試時,應用滑鼠及Keypad控制十字座標缺點定位檢查及紀錄,且液晶模組之缺陷種類可依據測試圖像建立,大幅縮短測試時間。因此不論于研發及產線應用,皆可以*快速之方式完成測試。
(6) 網管控制(選購) 透過網路介面進行測試程式維護與管理、硬體組態配置、資料上傳/下載、統計、EDID寫入比對之網管連線功能,使系統管理者在**時間掌握廠區生產狀態,并可作為產能、效率、良率之檢討。
Chroma 29130/29132/29133/29135液晶模組自動測試系統以電腦系統整合信號源/電源提供液晶模組圖像及電氣完整之規格測試,搭配簡易之系統程式進行Timing / Pattern / Power / Program編輯以滑鼠或keypad進行液晶模組之缺陷紀錄,以系統本身自動之電氣規格判定及快速之缺陷種類選擇,將大幅縮短產線測試時間,且以電腦為架構更能發揮網管控制功能優勢,提供產線生產管理之*佳應用。
液晶模組自動測試系統應用