*1 詳情請參閱應用指南60W-18344-0, "使用差分探頭進行單端測量"
泰克研制出一種**性的Z-Active 探頭架構,在信號保真度方面確立了行業基準。泰克有源探頭架構保留了高帶寬,同時實現了低負載,改進了連接能力。ZActive架構是一種混合方法,其中包括為有源探頭放大器輸送信息的分布式衰減器拓撲。
Z-Active 探頭使用與放大器分開的微小的無源探頭**單元,擴展了探頭的使用距離。在傳統有源探頭中,增加這么長的長度可能會引起信號保真度問題。但是,這種架構保持了很高的DC 輸入電阻,提供的AC阻抗要高于以前的探頭架構。與此同時,它在探頭機身和到DUT的探頭連接點之間提供了很長的長度。這種架構同時實現了兩方面的優勢:現有有源探頭的高DC 阻抗,Z0 探頭穩定的高頻負載。
您可以對測量的信號保真度滿懷信心,因為Z-Active 架構提供了:
當前許多邏輯信號和串行總線信號要求能夠測量高達幾伏的峰峰值電壓。Z -Active 架構探頭(P7380A、P7360A 和P7340A)擴展了線性動態范圍,可以輕松查看這些電壓電平。由于在5X 衰減設置時實現了2.0 Vpk-pk的線性動態輸入范圍,您可以以更低的噪聲,準確地測量DDRII & III、Firewire 1394b 和PCI-ExpressI & II信號。此外,25X衰減設置的線性動態輸入電壓范圍可以支持高達5.0 Vpk-pk,接入跳變期間發現的更大的信號擺幅。
Z-Active 探頭設計允許探頭簡便地在焊接應用、手持式應用或夾具應用之間切換。
這一探頭系列使用Tip-Clip™ 組件,這是一種可互換的探頭前端連接系統,使得客戶能夠根據應用為探頭配置*優的前端連接。這些可分離組件可以更換前端連接,其成本只是以前此類硬件變化相關成本的幾分之一。組件分成多種長度和可變間隔,可以靈活地適應不同規格的通路和其它測試點。通過泰克Tip-Clip組件,星期一使用的焊接探頭可以在星期二變成手持式工具,用戶只需要更換前端連接就可以了。
Z-Active 架構和Tip-Clip 組件相結合,以經濟的價格提供了杰出的信號保真度。便宜的Tip-Clip 組件可以以每條連接非常低的價格實現全部焊接連接性能。在探頭整個使用壽命中,這可以節約大量的運營成本。