VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
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產(chǎn)品名稱: VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào): Model 3380
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
Model 3380 VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
的詳細(xì)介紹
主要特色：
- 50/100 MHz 測(cè)試頻率
- 50/100 Mbps data rate
- 1024 I/O pins (*高可至1280 I/O pins)
- 平行測(cè)試可達(dá)1024 sites
- 32/64 M pattern 記憶體
- 多樣彈性 VI 電源
- 彈性化硬體結(jié)構(gòu) (可互換式 I/O, VI, ADDA,)
- Real parallel trim/match 功能
- 時(shí)序頻率測(cè)試單位 (TFMU)
- 高速時(shí)序測(cè)試單位 (HSTMU)
- AD/DA 功能卡 選配
- SCAN 測(cè)試功能 選配 (*高 1G M/chain)
- ALPG 測(cè)試選配供記憶體IC用
- STDF 工具支援
- 測(cè)試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (J750, D10,V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
- 人性化 Window 7操作環(huán)境
- CRAFT C/C++ 程式語(yǔ)言
- 程式語(yǔ)言同 3380P & 3360P
Rich Functions and Wide Coverage : Logic, MCU, ADDA (Mixed-signal); Power, LED driver, Class D; CIS, SCAN, ALPG, Match..etc
CP/FT Direct mount solutions available from engineering to production; CP maintain compatibility to J750.
