局部放電測試器

點擊看大圖

如果您對該產品感興趣的話,可以

產品名稱: 局部放電測試器

產品型號: B195002 DIP測試治具

產品展商: Chroma

產品文檔: 無相關文檔

簡單介紹

單機內建交流耐壓測試與局部放電偵測功能可程式交流耐壓輸出0.1kVac~10kVac 高精度及高解析度電流表0.01μA~300μA 局部放電(PD)偵測范圍1pC~2000pC 高壓接觸檢查功能( HVCC) 符合IEC60747-5-5、VDE0884、IEC 60270法規測試要求內建IEC60747-5-5測試方法量測與顯示單元分離式設計三段電壓測試功能 PD測量

局部放電測試器 的詳細介紹

產品特色

單機內建交流耐壓測試與局部放電偵測功能
可程式交流耐壓輸出0.1kVac~10kVac
高精度及高解析度電流表0.01μA~300μA
局部放電(PD)偵測范圍1pC~2000pC
高壓接觸檢查功能( HVCC)
符合IEC60747-5-5、VDE0884、IEC 60270法規測試要求
內建IEC60747-5-5測試方法
量測與顯示單元分離式設計
三段電壓測試功能
PD測量結果數值顯示 (pC)
PD**發生次數判定設定 (1~10)
多語系繁中/ 簡中/英文操作介面
USB畫面擷取功能
圖形化輔助編輯功能
標準LAN、USB、RS232遠端控制介面

Chroma 19501-K局部放電測試器內建交流耐電壓測試(Hipot Test)與局部放電(Partial Discharge,PD)偵測功能于一單機，提供交流電壓輸出0.1kV~10kV，漏電流測量范圍0.01μ A~300μA，局部放電偵測范圍1pC~2000pC，針對高壓半導體元件與高絕緣材料測試應用所設計與開發。

Chroma 19501-K局部放電測試器產品設計符合IEC60270-1法規，針對高電壓試驗技術中對局部放電測試要求，采用窄頻濾波器 (Narrowband)量測技術進行PD放電量測量，并將量測結果以直觀數值 (pC) 顯示在螢幕上讓使用者清楚明了待測物測試判定結果。

產品設計上，除了符合IEC60270-1，同時也符合光耦合器IEC60747-5-5與VDE0884法規要求，內建IEC60747-5-5法規之測試方法于儀器內部，滿足光耦合器產品生產測試需求，并提供使用者便利的操作介面。

于生產線上執行高壓測試時，如果待測物未能正確及良好連接測試線，將導致測試結果失敗甚至發生漏測的風險，因此在測試前確保待測物與測試線良好連接是非常重要的。 Chroma獨特之高壓接觸檢查功能 (High Voltage Contact Check :HVCC) 系利用Kelvin測試方法針對高絕緣能力之元件，于高壓輸出時同步進行接觸檢查，增加測試有效性與生產效率。

在固體絕緣物中含有氣隙或雜質混合在絕緣層時，額定工作高壓狀態下，由于較高的電場強度集中于氣隙而產生局部放電 (Partial Discharge),持續性的局部放電會長久劣化周遭絕緣材，而影響電氣產品之長久信賴性，而引起**事故。

應用于電源系統之安規元件，如光耦合器，因考量如果元件長時間發生局部放電對于絕緣材料的破壞，而發生絕緣失效的情況，進而引發使用者人身**問題；因此，在IEC60747-5-5法規中提及，于生產過程中 (Routine test) 必須100%執行局部放電 (Partial discharge) 檢測，在*大絕緣電壓條件下不能超過5pC放電量，確保產品在正常工作環境中不會發生局部放電現象。

局部放電測試器主要針對高壓光耦合器、高壓繼電器及高壓開關等高絕緣耐受力之元件，提供高壓的耐壓測試與局部放電偵測，確保產品品質與提升產品可靠度。